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尼康显微镜集成电路检测

2014-05-06  发布者:admin 

 探索与反射光共聚焦显微镜集成电路的实时共聚焦成像。 说明本教程的操作被赋予小程序窗口下方。

本教程模拟了使用尼康OPTIPHOT 200C IC检测共聚焦显微镜集成电路成像。 使用选择的集成电路下拉菜单中选择一个芯片的图像。 然后使用聚焦深度滑块通过显微镜可见,通过各种焦平面砸焦点。 点击蓝色箭头按钮,滑块的左侧和右侧将切换至在一个订单中的图像。