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尼康显微镜的目镜测微尺校准方法

2014-03-03  发布者:admin 

 与化合物的光学显微镜进行线性测量一般包括约25毫米下降到0.2微米,这是由最大视场直径和分辨率的显微镜极限主要取决于上下边界的长度范围。 这种互动式教学探讨各种目镜光罩用镜台测微计的校准,并演示了如何分划板可以被用来确定线性试样尺寸。

本教程初始化与水平刻度目镜分划板,有八个主要部门的规则( 标准刻度分划板),出现在叠加在一个阶段微米在随机选择的物镜放 ​​大倍数视口。 操作教程,使用X-移动Y移动滑块操纵目镜分划板背后的镜台测微裁决。 载物台微米平移分辨率的控制是由滑块换算调整单选按钮,这使 (默认)和测微尺的精细定位规则毕业就这些光罩的决定。 之后,测微尺已被放置在模滑块的分划板的后面,点击精细单选按钮,并精心搭配的测微尺规则之一(最好是编号为100微米的间隔线)与目镜的远左手定则掩模版(编号上的预设掩模版“0”)。

一旦分划板和镜台测微裁决已经对齐,用鼠标点击的叠加规则在目镜分划板的左手法则(标记为“0”的规则)来建立一个校准基准。 红色线(基线)将出现在光标单击鼠标按钮时位置。 接下来,将光标移动到另一个位置到基线的右侧位置在位置分划板和载物台微米规则再次完美对齐。 再次单击鼠标左键,然后第二红线(校准线)将出现。 基线和校准线之间的距离(以微米为单位)将在一个黄色的盒子题为测微尺长度显示在视口的下部右侧。 同时,计算出的值(也微米)主要分划板的裁决之间(有权光罩分区 )会在一个黄色的盒子出现在视口的下部左侧。 后者的值现在可以被用来测量样品的尺寸。

后光罩已经校准,点击标本单选按钮,位于视口的上部右侧,并且标本将出现在视口中(从选择A试片下拉菜单中选择)。 为了测量试样的功能,对准特征的边缘上使用的X翻译y平移滑块目镜分划板(标记为“0”的规则)的左手法则。 接下来,单击标本特征的相对边缘的鼠标光标进行测量。 被测样品的尺寸(以微米)将在一个黄色的盒子题为标本测量出现在视口的下部右侧。 一个新的标本可以使用相同的校准(和物镜放大倍数)从选择A试片下拉菜单中选择一名候选人进行测量。 为了提高分划板的可见性,当它叠加在一个标本,选择一个新的标线颜色(红色是默认值)从光罩颜色下拉菜单(选择有黑色,白色,红色和黄色)。

另一个物镜/目镜分划板校准可以通过从物镜放大倍数下拉菜单中选择不同的放大倍数进行。此外,一个新的掩模版可以从以下选择一个光罩菜单中选择。 无论这些行动(选择一个新的放大或新​​标线)将重新初始化教程,使访问者再掀校准。

线性掩模版(标准比例,十字准线,风车)用于线性测量,而电网光罩(方格网格,计数网格,同心圆,和米勒平方)被用于颗粒计数。 后者光罩也可校正在上述用于线性测量的方式。 测厚仪掩模版是用于比较的纤维和颗粒的相对尺寸是有用的。 这是刻线对准规则集编号20与载物台上的测微尺刻度校准。

目镜分划板(确定的测微尺刻度的关系)对特定物镜的校准通常按照以下描述的建议过程(参见图1)进行。 注意,只对特定的物镜/目镜组合被测试,并且在显微镜的特定机械管长度的目镜标线片的那个校准成立。 为了避免不必要地重复该过程,为每个组合的校准信息应记录,并存储在附近的显微镜工作站一个方便的位置。

  • 后确保显微镜对准并配置为科勒照明,插入适当的掩模版到显微镜目镜和使玻璃分划板盘的表面上的刻刻度显示清晰地聚焦调整眼透镜。 仔细检查分划板的方向,以确认位置上方或下方的刻线数量也不予转回。 这个任务可以通过按住目镜在明亮的光源前,通过眼睛盯着镜头来完成。 最后,调整显微镜双目瞳孔间距和以后测量记录此值。 如果该显微镜配备有补偿在两个目镜调整(如大多数现代显微镜的情况下),掩模版的校准值将是正确的任何瞳孔间距。

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  • 放置镜台测微显微镜载物台上,并把微米尺度成焦点采用显微镜粗微调焦控制旋钮。检测规模,将其转换为视场的中心是通过采用低倍率的物镜促进先找到周围的刻度圈,然后规模本身。 环包围微米尺度是用肉眼可见的,因此应该使用来定位微尺在显微镜光路中(第一阶段孔径)的中心。 此外,几个阶段微米设计有刻从戒指到规模,这也有利于在使用高倍率的物镜定位时规模的边缘线。 旋转的预期物镜到位,并确保两个秤(台测微尺和目镜分划板)是在同时进行重点视场可见。

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  • 翻译阶段,使用x - γ运动控制旋钮或手柄,和/或旋转目镜(及其分划板),以使两个尺度成平行排列(图1(a)和1(b))。 现代机械阶段通常具有围绕显微镜光轴的有限度的转动运动。 在这种情况下,松开翼形螺钉(通常位于载物台的前部,将试样台的下方)并旋转阶段,直到微米和目镜标线片是平行的。

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  • 直接定位在目镜标线片在微米(与阶段控制)和对齐的分划板上的左手定则与1的长,编号台上微米(100微米)的分割线(图1(b))。 根据不同的物镜倍率和目镜场直径,距离150微米和4毫米(阶段微米尺度的长度的两倍)之间的范围内将是可见的目镜。 在100至1000微米(10至100规则)在载物台微米的距离,确定两个点在哪个分划板和微米尺度完全匹配(参见图1)。 为了获得最准确的测量,利用两个尺度上的最大可能范围划分的。 只有偶尔做掩模版和镜台测微计的刻度重合在其整个长度在目镜可见,但是这往往与制造用于特定目镜标线片的情况。 最后,确定目镜规模参照载物台微米的分歧明显的长度。

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  • 为正在使用的物镜的测微尺的值可以通过将阶段微米的选择区域的已知长度的目镜刻度的分割数对应的计算。 其结果将产生每刻度上的分划板刻度为物镜的距离,一个量通常被称为校准常数 。 叠加在一台测微尺在图1的标线片(b)示出标记20的左手法则(标记为0)上的分划板与镜台测微计师的对准。 这两个规则的重叠是由红线清晰显示。 发生重叠的下一个区域,在载物台上的测微尺标有30的规则与目镜分划板的7.5马克一致。 因此,该阶段微米的100微米的区域等于7.5分划板的分裂。目镜标线片的各划分,因此,对应于13.3微米,对于特定的物镜/目镜组合被校准。适当的分划板校准计算显著数字的数量应进行仔细的审查。 因为在光学显微镜的最小可分辨距离约为0.2微米(在最佳情况下),低于该值的线性测量,不能精确地确定。

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  • 进行精确测量时使用配备有变焦光学系统的显微镜,有必要使用一个阶段微米,以显微镜各变焦设定。 虽然许多显微镜变焦环和控制旋钮都毕业于名义物镜放大倍数,这几乎是不可能的变焦控制返回完全相同的位置,一个必要条件精确测量。

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  • 后在目镜标线片已校准的阶段测微尺,试样的线性尺寸均可测量。 所有测量,最高放大倍数的物镜应选择使感兴趣的整个标本的功能下降光罩规模的跨度之内。 东方的光罩尺寸与试样地区备受瞩物镜轮廓相吻合。 接着,将试样转移至左边缘带编号的行中的目镜标线片重合,并且计数由物镜区域跨越尺度分割数。 仔细估算师的任何部分。 为了提高精度,开展对大型样品多次测量。 当圆形或椭圆形的样品被测量(如血细胞,酵母,细菌等),记录至少20名来自不同域的尺寸。 正在研究在图1(c)的试样是人类的头皮头发轴,它是在直径约93微米(测量与校准的标线片,如上面所讨论的)。

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刚才所描述的校准过程必须,当然,可以重复每个物镜要被用于线性测量。 应当指出的是放大倍数由几百分之刻有相同的放大倍数(例如,10倍)相似物镜(即使来自同一制造商)而变化,所以每一个物镜应该被独立地计算。 如果显微镜是经常与许多不同的物镜时,它可能会更方便绘制校准曲线以图形形式的每一个物镜。 这提供了一种简单的机制来快速确定而与显微镜的工作,而无需对所有的用于进行测量的物镜施加微米的值时,重复运算的特征尺寸。

上述的校准程序提供的一个因素,其有效期为一个特定的光学组合,而不需要实际的物镜放大倍率,通常不同于压印在物镜镜筒的额定功率的知识。 在利用包含修正衣领,以适应变化的盖玻片厚度的物镜,是要记住重要的是与衣领的不同设置的放大率的变化。 因此,确定这样一个物镜的校准系数只适用于用于校准校正衣领设置。 物镜具有可调整的套环,适用范围广的盖玻片的厚度提供校正,但也表现出倍率变化到高达15%,在整个调整范围。